常時モニタリング計測カメラシステム
「パーティクルアイ® CC」

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【特長1】
光膜方式の微粒子常時監視

ガスの一部を計測機器に吸引させるサンプリング方式によってガス中の粒子を計測する場合、例えば高温・高圧の状態にあるガスや毒性・腐食性を有するガスなどは、計測機器に吸引させることができない、もしくは、短時間しかサンプリングさせることができないという課題がありました。
パーティクルアイ CC は、光を利用した方式を採用しており、光膜を通過するすべての微粒子をカメラで常時撮影し計測できるため、サンプリング方式と比較して計測漏れを大幅に抑えることができます。

【特長2】
高速画像処理によるリアルタイム定量化

独自開発の高速画像処理技術「ViEST®エンジン」によって微粒子の可視化映像をリアルタイムに画像処理できるため、撮影や録画と同時に粒子の計数値や粒径別粒子数のグラフ化、粒径分級結果の映像化を行うことができます。

【特長3】
設備や用途に合わせてカスタマイズ可能

課題のヒアリングや仕様確認の打合せを通してカメラや光源などの最適化を図り、設備や用途に合った微粒子モニタリング計測システムを提案いたします。

【カスタマイズ事例】
ガス配管内の微粒子常時モニタリング計測

システム概要
ビューポートの外から配管内へ光を照射して配管断面に光膜を形成し、その光膜に対し直交方向にあるビューポートにカメラを取り付けて配管の外から撮影します。これにより配管断面の全域をモニタリングできるため、粒子の検出漏れがほとんどない計測を行うことができます。
モニタリング中は、粒子の可視化映像の取得と同時にViESTエンジンによる粒径分級が行われ、その結果が映像とグラフでパソコン上に表示されます。
このシステムはガスと計測機器が直接接触しない非接触方式のため、ガスの状態や種類によらず、ガス中の微粒子を常時計測することができます。
(注) 既存設備への適用には設備の改造が必要になる場合があります。

【参考仕様】

• 画像計測周期：10～120Hz
• 分級・計数データ記録間隔：0.1～60.0sec
• 最大解像度：800×600
• 計測マスク：画像内の計測範囲を矩形/楕円/台形で指定
• 粒径分級：3～5段階（粒径分級には別途校正試験が必要です）
• トリガー録画モード：粒子数が設定閾値を超えた場合に前後数秒含めて映像記録
• 予約計測モード：予約時間から設定計測時間で自動計測
• 長期連続監視：日付変更時にデータファイル自動更新
• モニター表示：粒子モニタリング映像/カラー分級映像/時系列計数グラフ/粒径分級ヒストグラム
• 信号出力：粒子数が設定閾値を超過したときに信号出力（オプション）
• 信号入力：外部センサーからの信号をトリガーとして録画開始（オプション）
• マルチカメラ監視：最大4台のカメラによるモニタリング計測（オプション）

  ※ 標準カメラおよび専用ソフトインストール済みパソコンを使用した参考仕様です。
  ※ 適用先によりシステム構成が変わりますので、仕様は都度打合せとなります。
 

微粒子計測技術にご興味のあるお客様へ

• マイクロ・ナノサイズ微粒子の可視化に最適な光源は、「パラレルアイＨ」
• 装置内や狭所での微粒子可視化に最適な光源は、「パラレルアイＦ」
• 高速で流動するガス中の微粒子の検出に最適な光源は、多機能LED光源「パラレルアイＤ」
• 微粒子の検出に必要な感度や機能を持つ超高感度カメラは、「パーティクルアイ」
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• 付着粒子の可視化や定量データ化を行いたい場合、表面異物高感度可視化ツール「Ｄスコープ」
• 製造現場や研究開発において粒子計測をご希望の場合、現場評価サービス・製品開発・広報支援サービス
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• 自社設備で粒子のモニタリングや計測を行いたい方、弊社専門技術スタッフが質問や疑問にお答えいたします。お気軽にご相談ください。